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產(chǎn)品中心

Product Center

IR孔透過率測試儀

產(chǎn)品簡介

IR孔透過率測試儀是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準確地測量各類平面光學元件的透光率，可用于實時在線檢測，實現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。

產(chǎn)品型號：DMS-2
更新時間：2024-10-29
廠商性質：生產(chǎn)廠家
訪問量：2920
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產(chǎn)地類別國產(chǎn)應用領域電子/電池,包裝/造紙/印刷,汽車及零部件,電氣,綜合
　　簡介
 
　　IR孔透過率測試儀是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準確地測量各類平面光學元件的透光率，可用于實時在線檢測，實現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。
 
　　特點
 
　　智能化軟件操作：可自定義測量方式和角度，實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù)，自動調(diào)整顯示坐標范圍，高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
 
　　譜圖管理：IR孔透過率測試儀可同時記錄多達20個樣品譜圖，批量保存測量結果，記錄譜圖測試積分時間，能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，盡可能地方便了譜圖的管理和分析。
 
　　自定義測量方案：用戶可以自行定義測量的方案，同時設置判定標準，使檢測更快速，結果更準確。
 
　　譜圖數(shù)據(jù)處理功能：備有豐富的光學元件數(shù)據(jù)庫，可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標準數(shù)據(jù)對比分析結果，用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進行添加、修改和刪除，還可將測量數(shù)據(jù)導入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。
 
　　CIE顏色測量功能：可以計算樣品各種CIE顏色參數(shù)，x，y，L，a，b，飽和度，主波長等。
 
　　數(shù)據(jù)報告打印功能：可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖，自定義測量報告出具單位名稱。
 
　　技術參數(shù)
 
　　型號DMS(1型)DMS(2型)
 
　　探測器Sony線形CCD陣列Hamamatsu背照式2D-CCD
 
　　檢測范圍380-1000nm360-1100nm
 
　　波長分辨率1nm1nm
 
　　信噪比(全信號)250：11000：1
 
　　相對檢測誤cha﹤0。5%(400-800nm)﹤0。2%(400-800nm)
 
　　單次測量時間﹤1s
 
　　樣品尺寸≥Φ1mm
 
　　操作系統(tǒng)/接口WindowsXP，WindowsVista/USB2。0
 
　　電源/功率220V-50HZ/6W
 

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